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工场网信息科技(上海)有限公司

电子零部件采购、日本半导体材料、日本半导体检测、工业电气设备、精密机械加工

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FNA工场网坚持守则,实践日本半导体检测产品
发布时间:2021-08-07        浏览次数:43        返回列表
   工场网信息科技(上海)有限公司作为受人称赞的日本半导体检测综合服务商,专注于电子零部件采购日本半导体材料应用领域,以创意为核心、市场需求为导向,主要利用电子零部件采购日本半导体材料。公司自2003/03/26成立以来,将技术和艺术相结合,依托长期积累的技术实力和前瞻性的创意设计能力,为电子零部件采购日本半导体材料行业的客户提供综合服务。

   创新是工场网信息科技(上海)有限公司成功的基石。在未来,FNA工场网也希望不断地创新,为广大顾客提供日本半导体检测服务。多年来,FNA工场网始终相信只有坚持创新和专业,才能更好的满足客户对诚信经营日本半导体检测的需求。延伸拓展详情介绍:日本半导体检测中不可缺少是什么?半导体工业涵盖各种各样的应用,从PC到移动设备的处理器和存储器,从集成电路到太阳能电池。在半导体工业中,红外线工业相机可以用来检测纯半导体材料的质量。此外,切割成晶片的硅锭和晶片成品,也可以用类似的方法检测缺陷或裂纹,然后将晶片加工成光电子元器件或其他半导体器件。在最后切割晶圆成为单芯片的加工过程中,对于锯片和激光校准来说,红外线工业相机依旧是目前日本半导体检测的主流方案。为了进行失效分析,装配好的集成电路必须进行裂纹或光刻检测,整个生产流程中都需要进行检测,而在这些应用中,都少不了红外线相机的身影。使用一台红外线相机,配合发射波长在1150nm波段的光源,很轻易的就可以进行硅锭或硅砖的内部杂志和结构的检测。这是因为这种半导体材料不吸收能量低、相对波长更长的短波红外光子,而可见光光子则因具有更高的能量和相对更短的波长被材料吸收,无法透过。使用红外线相机成为了日本半导体检测的优良检测工具,可以直接检测缺陷、杂质、孔洞或夹杂。当硅锭进一步加工成为晶片时,硅锭中的杂质会对生产设备造成损害。通过红外线相机的检测,则可以有效避免类似的问题,从而确保更高的生产效率。

   
在科技不断更新的今天,FNA工场网人秉承专业铸造品牌,贴心服务客户的宗诣,正以满腔热忱迎接新时代的挑战。想要了解更多关于工业机械设备、金属切削加工的信息,请访问:www.fna.cn。

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